可控硅阻断特性测试仪SCR-DC5KV

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发布日期
2024年3月17日
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王伟
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可控硅阻断特性测试仪SCR-DC5KV

可控硅阻断特性测试仪SCR-DC5KV
基础信息
测试对象:晶闸管、双向晶闸管、整流二极管、桥堆
测试参数:VDRM、VRRM、IDRM、IRRMVRRM、IRRM
测试标准:《反向阻断晶闸管测试方法》(JB/T7)
操控方式:单片机程控,结果和曲线触摸屏显示,U盘可拷贝
产品结构:台式单机,程控操作,电压及漏电自保护


可控硅阻断特性测试仪SCR-DC5KV
产品简介
该测试仪电路主要分为控制电路和高压电路两部分。测试仪接通电源后,由电子调压器调整高压变压器的输出,经整流及正反向转换后,产生频率为50HZ、底宽10mS的正弦半波电压施加到被测器件两端,同时电压经衰减后反馈到控制电路,经运放采样电路整定后输入单片机,由单片机抓取峰值并显示,漏电流由回路中的标准取样电阻取得,经运放采样电路后输入单片机,由液晶屏显示。
被测元件达到电压或电流设定值,单片机输出低电平信号,电子调压器回零,切断主电路中的固态继电器,使其关断,高压及被测元件失电,从而起到保护元件的作用。

可控硅阻断特性测试仪SCR-DC5KV
性能指标
断态及反向重复峰值电压(VDRM、VRRM)
调节范围:0~5.00kV连续可调;
控制精度范围:0.50~5.00kV;
分辨率0.01kV,精度±3%;
断态及反向重复峰值漏电流(IDRM、IRRM)
测试范围:0~100.0mA;
分辨率0.1mA,精度±3%±0.2mA;
电压波形:正弦半波;
测试频率:50Hz/5Hz;
测试数据显示方式:液晶屏;
测试方式:自动;
可控硅阻断特性测试仪SCR-DC5KV

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